Fluoreszenzspektroskopie an K-Schalen-Übergängen hochgeladener Eisenionen - Rudolph, Jan; Justus Liebig University Giessen (Universitätsbibliothek Gießen, 2013)
Keywords: Röntgenspektroskopie; hochgeladene Ionen; Eisen; Elektronenstrahlionenfalle (EBIT); X-ray spectroscopy; highly charged ions; iron; electron beam ion trap (EBIT); ddc:530